精品黑人一区二区三区久久,麻豆理论在线观看,国产色产综合色产在线视频,日韩一级完整毛片
首 頁
產品展示
公司介紹
技術文章
公司動態
榮譽資質
在線留言
聯系我們
產品展示
PRODUCTS
您當前的位置：
首頁
>
產品展示
>
通用測試設備
>
相機/熱像儀/激光測試系統
LD-SWIR-TX短波紅外/熱像儀測試系統
VT-X可見光相機成像測試系統
共 2 條記錄，當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第
頁
產品中心
Products
通用測試設備
光學傳遞函數測試儀
相機/熱像儀/激光測試系統
微區拉曼/PL光譜分析儀
激光波長計/激光功率計
查看更多
相關文章
EMCCD技術在低照環境中的應用
動態光散射測量粒子尺寸
紅外探測器在氣體分析方面的應用
降低紅外發射率來實現“紅外隱身”
激光測距傳感器主要應用于這三個領域
解決機載高光譜相機常見問題的方法
紅外輻射標定—黑體
【樣機免費測試】Raptor深度制冷CCD / EMCCD相機
高光譜成像技術在薄膜厚度檢測上的應用
深度制冷CCD相機在活體成像中的應用
首 頁
|
產品展示
|
公司介紹
|
技術文章
|
公司動態
|
榮譽資質
|
在線留言
|
聯系我們
推薦產品：
全波段光電探測器（0.2-26um），短波紅外相機(0.9-1.7um)，紅外 熱像儀，微光夜視儀，成像機芯(0.9-1.7um/3-5um/8-14um)，EMCCD/SCMOS相機， 光功率計/能量計，光譜分析儀，光纖滑環，激光器，激光測距機
©2025 版權所有：西安立鼎光電科技有限公司
備案號：陜ICP備16011464號-3
技術支持：
化工儀器網
地址：陜西省西安市高新區畢原三路與上林苑九路東南角億恒泰來科技產業園2號樓304 室
管理登陸
網站地圖
微信二維碼
在線客服
咨詢在線客服
